[发明专利]固态摄像元件及其制造方法无效
申请号: | 200810088071.6 | 申请日: | 2008-03-31 |
公开(公告)号: | CN101276830A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 城户英男;糸长总一郎;吉次快;千叶健一 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/822 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 董方源 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供不因回蚀处理而降低自对准硅化物阻挡膜的能力并可均匀地进行晶体管的源极/漏极注入的固态摄像元件的制造方法。在栅极电极(11、21)的侧表面形成的侧壁(32、33)作为掩模,形成晶体管的源极/漏极区域(14、24)。然后覆盖栅极电极(11、21)、侧壁(32、33)、源极/漏极区域(14、24)以及受光区域而形成供氢膜(33)和自对准硅化物阻挡膜(34)。在去除硅化区域的自对准硅化物阻挡膜(34)后,形成金属膜(38)并进行热处理,在硅化区域的栅极电极(21)和源极/漏极区域(24)的上部形成金属硅化膜(25、26),由此来制造固态摄像元件。 | ||
搜索关键词: | 固态 摄像 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种固态摄像元件,其特征在于,通过光照射而产生电荷的受光部和晶体管的源极/漏极区域被形成在半导体层中,并包括:包含所述受光部的非硅化区域,其中晶体管的源极/漏极区域以及栅极电极的表面未被硅化;以及硅化区域,其中至少晶体管的源极/漏极区域以及栅极电极的表面被硅化,在所述非硅化区域中,在晶体管的栅极电极的侧表面上形成有侧壁,覆盖所述半导体层、所述栅极电极、以及所述侧壁而形成有供氢膜,在所述供氢膜上形成有阻止硅化的自对准硅化物阻挡膜,在所述硅化区域中,在晶体管的栅极电极的侧表面形成有侧壁,而没有形成所述供氢膜以及所述自对准硅化物阻挡膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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