[发明专利]一种基站侧无线基带芯片测试装置及方法有效
| 申请号： | 200810090428.4 | 申请日： | 2008-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN101557598A | 公开（公告）日： | 2009-10-14 |
| 发明（设计）人： | 许祥滨;杨晓龙;谭建华;汤顺 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙 洪;霍育栋 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基站侧无线基带芯片的测试装置，包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中，待测芯片作为上、下行的被测对象；控制器单元在正确的时间点控制产生待测芯片上行天线数据流或采集下行天线数据流，通过查询待测芯片的状态及读出待测芯片输出的上行处理结果，并将上行处理结果与上行参考结果进行比较；或将采集的下行天线数据流与下行参考结果进行比较及查询待测芯片的下行工作状态，来分别判断待测芯片上、下行处理结果的正确性。本发明可弥补无线专用测试仪器无法完成指定时间点比特级校准功能的缺陷，且缓解了多套测试环境对大量测试仪器的需求，节省研发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基站 无线 基带 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基站侧无线基带芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中：所述待测芯片，用于作为上行可靠性测试的被测对象；所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的上行天线数据流的产生时间点，并在正确的时间窗内为所述待测芯片配置上行工作参数及产生所述上行天线数据流，通过查询所述待测芯片的上行工作状态，以及读出所述待测芯片输出的上行处理结果，并将所述上行处理结果与上行参考结果进行比较，来判断所述待测芯片上行处理结果的正确性。
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