[发明专利]相位差测量方法及装置无效
| 申请号： | 200810091808.X | 申请日： | 2008-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN101281092A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 网盛一郎;小畑史生;高桥弘毅 | 申请（专利权）人： | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02F1/13;G01N21/17 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 徐冰冰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种能够准确地确定存在散射、吸收或消除偏振光的试样的相位差的方法。该方法为根据依次配置有光源、偏振器、试样、检偏器和分光器的光学系中测量到的分光光谱确定该试样的相位差的方法，包括以下过程：准备没受该试样的相位差影响的该试样的分光光谱数据；对使该偏振器的透射轴、该试样的光学轴和该检偏器的透射轴的配置为检测该试样的相位差的配置而测量的至少一个分光光谱进行测量；用上述分光光谱数据修正上述分光光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 相位差 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种根据依次配置有光源、偏振器、试样、检偏器和分光器的光学系中测量到的分光光谱确定该试样的相位差的方法，包括以下过程：准备未受该试样的相位差影响的该试样的分光光谱数据；对使该偏振器的透射轴、该试样的光学轴和该检偏器的透射轴的配置为检测该试样的相位差的配置而测量的至少一个分光光谱进行测量；用上述分光光谱数据修正上述分光光谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社，未经富士胶片株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810091808.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：收缩膜
- 下一篇：环保轻质砖及其制备方法
