[发明专利]测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 200810093321.5 申请日: 2008-04-18
公开(公告)号: CN101561336A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 曾天仲 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种测试装置及测试方法。测试装置包括气密隔间结构、箱体及至少一气体感测器。箱体与气密隔间结构结合以形成一气密空间,一待测物设置在箱体与气密隔间结构结合的一侧,且待测物与气密隔间结构结合形成一待测气密空间;至少一气体感测器设置于待测气密空间中。气密空间供容置一测试气体,通过至少一气体感测器检测待测气密空间内是否存在测试气体,以测试待测物的气密状态。
搜索关键词: 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种测试装置,用于测试一待测物的气密状态,该测试装置包括:气密隔间结构;箱体,与该气密隔间结构结合形成一气密空间,该待测物供设置在该箱体与该气密隔间结构结合的一侧,且该待测物与该气密隔间结构结合形成一待测气密空间;至少一气体感测器,设置于该待测气密空间中;该气密空间供容置一测试气体,通过该至少一气体感测器检测该待测气密空间内是否存在该测试气体,以测试该待测物是否为气密状态。
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