[发明专利]X-射线检测器和X-射线CT设备有效
| 申请号： | 200810094969.4 | 申请日： | 2008-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101569530A | 公开（公告）日： | 2009-11-04 |
| 发明（设计）人： | 孙云峰;董加勤;李剑颖 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01T1/161;G01T1/24;H01L31/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;刘宗杰 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及X-射线检测器和X-射线CT设备。将实现一种仅用一层半导体就可适于低通量率到高通量率的X-射线检测器，以及一种具有这种X-射线检测器的X-射线CT设备。X-射线检测器使用将X-射线的光子直接转换成电信号的半导体，其装配有具有检测单元阵列的单层半导体衬底，该检测单元将X-射线的光子直接转换成电信号；第一数据收集装置，其以光子计数模式收集关于检测单元的数据；以及第二数据收集装置，其以电流测量模式收集关于检测单元的数据。该第一数据收集装置和第二数据收集装置收集关于不同检测单元的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 ct 设备 | ||
【主权项】：
1、一种使用将X-射线的光子直接转换成电信号的半导体的X-射线检测器，该X-射线检测器包括：具有检测单元阵列的单层半导体衬底，该检测单元将X-射线的光子直接转换成电信号；第一数据收集装置，其以光子计数模式收集关于所述检测单元的数据；以及第二数据收集装置，其以电流测量模式收集关于所述检测单元的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于GE医疗系统环球技术有限公司，未经GE医疗系统环球技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810094969.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
