[发明专利]用于半导体器件的封装有效

专利信息
申请号: 200810095851.3 申请日: 2004-05-28
公开(公告)号: CN101295701A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 大井和彦;小平正司;渡利英作;中村顺一;松元俊一郎 申请(专利权)人: 新光电气工业株式会社
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/14;H05K1/02;H05K1/03
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;于静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及用于半导体器件的封装。为了防止在半导体元件与安装半导体元件的半导体封装之间的接合部分中出现应力,以使即使在安装具有小的强度的半导体元件时也不发生碎裂。用于半导体器件的封装形成为许多层的叠层(20),所述许多层包括互相交替地堆叠的多个导电层和绝缘树脂层,以及该封装在叠层的一个表面上具有用于安装半导体元件的部分。至少包括所述用于安装半导体元件的部分和它的周围的、叠层的绝缘树脂层(20d到20f)的整个区域或某些区域由通过用绝缘树脂浸渍液晶聚合物的编织纤维而得到的聚酯胶片构成。
搜索关键词: 用于 半导体器件 封装
【主权项】:
1.一种用于半导体器件的封装,该封装包括:许多层的叠层,所述许多层包括互相交替地堆叠的多个导电层和绝缘树脂层;至少两个绝缘树脂层,堆叠在所述叠层的上表面上,并包括用作为最上层的第一层和形成最上层下面的下一层的第二层;以及在所述第一层的上表面上限定的、用于安装半导体元件的部分,其中所述第一层由具有小于要被安装的半导体元件的线热膨胀系数的线热膨胀系数的绝缘树脂构成,以及所述第二层由具有低杨氏模量和高伸长百分比的材料构成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新光电气工业株式会社,未经新光电气工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810095851.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top