[发明专利]成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序无效
| 申请号： | 200810096914.7 | 申请日： | 2008-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN101304484A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | 大槻博树 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217;H04N9/04 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序，成像装置包括：缺陷像素存储单元，存储缺陷像素的位置信息和像素缺陷信息；图像输入单元，输入图像；缺陷像素确定单元，基于位置信息确定每个像素是否为缺陷像素；像素共有缺陷确定单元，基于像素缺陷信息确定缺陷像素是否包括在缺陷像素组中；像素类型确定单元，确定每个像素的类型；内插像素选择单元，基于缺陷像素的类型和表示缺陷像素是否包括在缺陷像素组中的确定结果选择被确定为缺陷像素的像素的周边像素；内插值计算单元，基于所选的周边像素的值计算被确定为缺陷像素的像素的内插值；内插内插值替换单元，用计算得到的内插值替换被确定为缺陷像素的像素的值。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 装置 缺陷 像素 校正 中的 处理 方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种成像装置，包括：缺陷像素存储装置，用于存储包括在成像器件中的多个像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多个缺陷像素的缺陷像素组是否包括与所述位置信息相关的所述缺陷像素的像素缺陷信息，所述位置信息与所述像素缺陷信息相关联；图像输入装置，用于输入通过所述成像器件拍摄的图像；缺陷像素确定装置，用于基于存储在所述缺陷像素存储装置中的所述位置信息确定所述输入图像中的每个像素是否为缺陷像素；像素共有缺陷确定装置，用于基于存储在所述缺陷像素存储装置中的所述像素缺陷信息确定被确定为缺陷像素的所述像素是否包括在所述缺陷像素组中；像素类型确定装置，用于确定所述输入图像中的所述每个像素的类型；内插像素选择装置，用于基于所述缺陷像素的所述类型和表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素组中的确定结果，选择被确定为所述缺陷像素的所述像素的周边像素；内插值计算装置，用于基于所选择的周边像素的值计算被确定为缺陷像素的所述像素的内插值；以及内插值替换装置，用于用计算得到的内插值替换被确定为缺陷像素的所述像素的值。
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