[发明专利]JTAG链路测试方法及其装置有效
| 申请号： | 200810097597.0 | 申请日： | 2008-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN101470170A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 曹锦业 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种JTAG链路测试方法及其装置。所述JTAG链路测试方法包括向JTAG链路置入一组全1指令码；根据所述全1指令码，选择1位移位数据寄存器连接在各个待测器件上，且所述移位数据寄存器捕获各个待测器件的状态；将包含特征码的测试向量通过JTAG链路置入所述移位数据寄存器中；移位数据寄存器输出的各个移位数据寄存器捕获的待测器件的状态和测试向量中的特征码；根据所述移位数据寄存器输出的待测器件的状态和特征码，判断JTAG链路是否正常。通过本发明实施例提供的技术方案，能够简单、方便的实现对JTAG链路的测试。 | ||
| 搜索关键词： | jtag 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种联合测试行动组JTAG链路测试方法，用于测试由待测器件组成的JTAG链路，其特征在于，包括：向JTAG链路置入一组全1指令码，所述全1的指令码的长度大于或等于待测试器件的数量；根据所述全1指令码，JTAG链路选择1位移位数据寄存器连接在JTAG链路各个待测器件上，且所述移位数据寄存器捕获各个待测器件的状态；将包含特征码的测试向量通过JTAG链路置入所述移位数据寄存器中，所述测试向量的长度大于待测试器件的数量；移位数据寄存器输出的各个移位数据寄存器捕获的待测器件的状态和测试向量中的特征码；根据所述移位数据寄存器输出的待测器件的状态和特征码，判断JTAG链路是否正常。
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