[发明专利]分析装置有效
申请号: | 200810099052.3 | 申请日: | 2008-05-15 |
公开(公告)号: | CN101308156B | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 足立作一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/50;G01N21/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及分析装置。本发明要解决的问题是:照入角度越大,虽然光量增大从而保证了分析精度,但在伴有散射光的分析中却容易照入散射光,导致能测定浓度的动态范围变窄。本发明的分析装置在由分光部进行分光之后,对各波长改变所接收的光的照入角度,对光量少的波长的光加大照入角度,光量增大,对于在伴有散射光的分析中所使用的波长的光则减小照入角度。这样,在使光量增大、维持分析精度的同时,还可以在伴有散射光的分析中提高能测定浓度的动态范围。 | ||
搜索关键词: | 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种分析装置,其特征在于,具有:容纳试剂的容器;对上述容器至少照射400nm以上的第一波长和不足400nm的第二波长的光量不同的光的光源;对通过了上述容器后的光进行分光的分光部;以及从上述分光部接收被分光后的光且检测光的中心波长各不相同的多个受光元件,配置在上述分光部和至少一个上述受光元件之间的狭缝,上述狭缝具有开口部,该开口部使来自上述分光部的光在以所述第一波长作为中心波长的光作为检测光的上述受光元件中的照入角度小于来自上述分光部的光在以所述第二波长作为中心波长的光作为检测光的上述受光元件中的照入角度。
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