[发明专利]气相沉积制备四氧化三锰纳米线的方法无效
申请号: | 200810103467.3 | 申请日: | 2008-04-07 |
公开(公告)号: | CN101311366A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 常永勤;俞大鹏 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | C30B29/16 | 分类号: | C30B29/16;C30B29/62;C30B23/00 |
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地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种气相沉积制备四氧化三锰纳米线的方法,属于纳米材料制备技术领域。本发明将高纯Mn粉放置在三氧化二铝坩埚中,清洗后的镀金膜硅片覆盖在Mn源正上方,镀膜硅片与蒸发源的垂直距离为1~2mm,再一起放入水平管式炉中;将炉温升至900~1000℃后保温2~4h,膜生长过程中充入流量为50~150ml/min的氩气,生长结束后自然冷却至室温。本发明在镀有金膜的硅片上获得大量高纯度的Mn3O4纳米线,制备的Mn3O4纳米线为四方结构,纳米线的直径约50~260nm,长度为8~12μm,具有高的结晶质量,其生长方向为[211]。磁学测量结果表明:一维Mn3O4纳米线的居里温度和矫顽力均高于体材料。 | ||
搜索关键词: | 沉积 制备 氧化 纳米 方法 | ||
【主权项】:
1、一种气相沉积制备四氧化三锰纳米线的方法,其特征在于,将镀有金膜的硅片用丙酮超声清洗后再用去离子水清洗,用以收集Mn3O4纳米线;将高纯Mn粉放置在三氧化二铝坩埚中,清洗后的镀膜硅片覆盖在Mn源正上方,镀膜硅片与蒸发源的垂直距离为1~2mm,将它们一起放入水平管式炉中;将炉温升至900~1000℃后保温2~4h,膜生长的整个过程充入流量为50~150ml/min的氩气,生长结束后自然冷却至室温。
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