[发明专利]镜头阴影校正系数确定方法、镜头阴影校正方法及装置有效
| 申请号： | 200810104875.0 | 申请日： | 2008-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN101271196A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 谌安军;王浩 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭润湘 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种镜头阴影校正系数确定方法、镜头阴影校正方法及装置。包括：根据训练图像得到每个像素点的参考校正系数；由所述参考校正系数生成像素点坐标平面上的二维校正曲面；采用像素点坐标的二元高次幂多项式拟合所述二维校正曲面；根据所述多项式计算出与每一像素点坐标对应的镜头阴影校正系数，根据确定出的镜头阴影校正系数对该镜头拍摄的图像进行进行镜头阴影校正处理。本发明方法适用于对各种类型的镜头拍摄的图像进行镜头阴影校正，且图像校正效果较好，实现简单。 | ||
| 搜索关键词： | 镜头 阴影 校正 系数 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种镜头阴影校正系数确定方法，其特征在于，包括：根据训练图像得到每个像素点的参考校正系数；由所述参考校正系数生成像素点坐标平面上的二维校正曲面；采用像素点坐标的二元高次幂多项式拟合所述二维校正曲面；根据所述多项式计算出与每一像素点坐标对应的镜头阴影校正系数。
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