[发明专利]芯片检测方法有效
| 申请号： | 200810105619.3 | 申请日： | 2008-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101571571A | 公开（公告）日： | 2009-11-04 |
| 发明（设计）人： | 简维廷;郭强;龚斌 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李 丽 |
| 地址： | 100176北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种芯片检测方法，包括，根据芯片中所有逻辑单元的数量、检测芯片所有逻辑单元时允许失效的逻辑单元的数量以及作为本批次检测样本的芯片数量，获得达到本批次芯片检测要求的单个芯片逻辑单元的失效概率；保持作为检测样本的芯片数量不变，根据所述单个芯片逻辑单元的失效概率获得能够达到本批次芯片检测要求的单个芯片中逻辑单元的检测数及对应的允许失效的逻辑单元的数量的检测数据；选取具有最少逻辑单元检测数及对应允许失效逻辑单元数量的一组检测数据，来对芯片进行检测。所述芯片检测方法节省了检测时间，并且使得芯片产品大规模生产的时间提前，从而提高了代工厂芯片的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片检测方法，其特征在于，包括：根据芯片中所有逻辑单元的数量、检测芯片所有逻辑单元时允许失效的逻辑单元的数量以及作为本批次检测样本的芯片数量，获得达到本批次芯片检测要求的单个芯片逻辑单元的失效概率；保持作为检测样本的芯片数量不变，根据所述单个芯片逻辑单元的失效概率获得能够达到本批次芯片检测要求的单个芯片中逻辑单元的检测数及对应的允许失效的逻辑单元的数量的检测数据；选取具有最少逻辑单元检测数及对应允许失效逻辑单元数量的一组检测数据，来对芯片进行检测。
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