[发明专利]一种发射功率的检测方法及装置有效
| 申请号： | 200810105784.9 | 申请日： | 2008-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN101577591A | 公开（公告）日： | 2009-11-11 |
| 发明（设计）人： | 张世进;林卫;蔡月民;熊军 | 申请（专利权）人： | 大唐移动通信设备有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04W52/18 |
| 代理公司： | 北京市德恒律师事务所 | 代理人： | 马佑平;梁 永 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发射功率的检测方法及装置。其中所述方法包括以下步骤：选择m个子帧作为待检测子帧，所述m为大于1的整数；依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样，所述n为正整数，其中，后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT；对所述n×m个功率采样点的功率采样结果进行平均，得到所述下行导频信号的平均功率，通过所述下行导频信号的平均功率确定所述发射功率。本发明还公开了一种功率检测装置。本发明技术方案的应用，能提高功率检测的精度，消除了不同码字对功率检测值的影响，消除了射频通道的时延对功率检测值的影响，并能节省资源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射 功率 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种发射功率的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：选择m个子帧作为待检测子帧，所述m为大于1的整数；依次对所述待检测子帧的下行导频时隙进行n点功率采样，所述n为正整数，其中，后一下行导频时隙的采样点相对于前一下行导频时隙对应的采样点具有时间偏移ΔT；对上述n×m个功率采样点得到的功率采样结果进行平均，得到下行导频信号的平均功率，通过所述下行导频信号的平均功率确定发射功率。
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