[发明专利]电路基板检测装置及方法无效
| 申请号： | 200810109346.X | 申请日： | 2008-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN101592620A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 苏新卿;张仲华 | 申请（专利权）人： | 华硕电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电路基板检测装置及其检测的方法，其中包括取像设备及主机单元，取像设备耦接该主机单元，用以撷取样本电路基板待测电路基板的表面的影像，并利用该主机单元，以接收样本画面和待测画面，并比对在样本画面和待测画面上的每一种类物件的影像，以确认该待测电路基板的该表面上是否有瑕疵。 | ||
| 搜索关键词： | 路基 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电路基板检测装置，其特征在于，包括：取像设备，用以撷取样本电路基板和待测电路基板的表面的影像，以分别产生样本画面和待测画面，其中上述样本画面和上述待测画面用以分别显示在上述样本电路基板和上述待测电路基板的上述表面上的多个物件；以及主机单元，耦接上述取像设备，以接收上述样本画面和上述待测画面，并比对在上述样本画面和上述待测画面上的每一上述这些物件的影像，以确认上述待测电路基板的上述表面上是否有瑕疵。
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