[发明专利]测试治具的探针无效
| 申请号： | 200810109528.7 | 申请日： | 2008-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN101592681A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 陈彬龙;陈皇志 | 申请（专利权）人： | 祐邦科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所（普通合伙） | 代理人： | 翟 羽 |
| 地址： | 台湾省新竹市光*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种测试治具的探针(probe)，本发明的技术手段主要是将探针针尖处的表面上，镀上纳米镀膜厚度为1～20纳米的高导电性高分子材料，通过这种镀膜过程，本发明的测试治具的探针纳米镀膜可有效地使探针具备不沾粘、导电性高、接触电阻稳定、寿命长的优良品质，因此可以提升IC组件测试良率，降低探针清洁的频率，并且降低整体测试成本。而且由于纳米镀膜具有高导电性，使原本的探针金属材质只需五分之一的镀金厚度即可达到相同导电度，从而达到降低整体探针材料成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 探针 | ||
【主权项】：
1.一种探针，是由金属材料制成，装置于一测试治具上；其特征在于：所述探针还包括一导电高分子纳米镀膜，镀于该些探针上。
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