[发明专利]一种TiC/DLC多层薄膜的沉积方法无效
申请号: | 200810110529.3 | 申请日: | 2008-06-02 |
公开(公告)号: | CN101597745A | 公开(公告)日: | 2009-12-09 |
发明(设计)人: | 马占吉;赵栋才;武生虎;肖更竭;任妮 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/14;C23C14/06;C23C14/54 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 730000甘肃*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明是一种TiC/DLC多层薄膜的方法,属于表面工程技术领域。本发明采用磁过滤钛电弧源沉积Ti层;采用脉冲石墨电弧源沉积DLC层;采用磁过滤钛电弧源和脉冲石墨电弧源共同沉积TiC层,通过调节脉冲石墨电弧源的脉冲频率来控制TiC层中的Ti含量。采用电弧离子镀技术沉积的TiC/DLC多层薄膜内应力小于类金刚石单层薄膜的内应力,同时保持了类金刚石薄膜高硬度和低摩擦系数的性能特点,沉积的TiC/DLC多层膜总厚度可以达到2μm,且具有优异的耐磨损性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 tic dlc 多层 薄膜 沉积 方法 | ||
【主权项】:
1、一种TiC/DLC多层薄膜的沉积方法,其特征在于包括下列步骤:(1)打开磁过滤钛电弧源,在完成预处理的工件上沉积Ti层;(2)同时打开磁过滤钛电弧源和脉冲石墨电弧源沉积TiC层;(3)关闭磁过滤钛电弧源,采用脉冲石墨电弧源沉积DLC层;(4)多次重复步骤(2)和步骤(3)的沉积过程。
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