[发明专利]测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 200810110600.8 | 申请日： | 2008-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN101598753A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | 冯文能 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿 宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种测试装置及测试方法。该测试装置，可检测一芯片取放装置，该芯片取放装置可设置于一芯片测试机，该测试装置包含：一控制装置，该控制装置可提供至少一操作信号至该芯片取放装置，该操作信号与该芯片测试机提供至该芯片取放装置的一动作信号相同。本发明同时揭露一种测试方法，该测试方法可检测一芯片取放装置，该芯片取放装置可设置于一芯片测试机，该测试方法包含：提供至少一操作信号至该芯片取放装置，该操作信号与该芯片测试机提供至该芯片取放装置的一动作信号相同。本发明可以检测芯片取放装置，不需要将芯片取放装置组装至芯片测试机，即可进行芯片取放装置的检测，非常适于实用。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试装置，该测试装置可检测一芯片取放装置，该芯片取放装置可设置于一芯片测试机，其特征在于该测试装置包含：一控制装置，该控制装置可提供至少一操作信号至该芯片取放装置，该操作信号与该芯片测试机提供至该芯片取放装置的一动作信号相同。
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