[发明专利]用于指纹比对的系统和方法无效
申请号: | 200810111412.7 | 申请日: | 2008-06-12 |
公开(公告)号: | CN101324921A | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 尹逸东;权东振 | 申请(专利权)人: | 韩国外国语大学校研究产学协力坛 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高少蔚;席兵 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及用于指纹比对的系统和方法。一种指纹比对系统包括第一细部特征获取单元和第二细部特征获取单元,适于获取第一指纹和第二指纹的细部特征信息。在第一指纹的细部特征上,由网格构造单元来构造可变形网格,而网格变换单元被用来对可变形网格的状态进行变换,由此获得扭曲补偿的第一指纹。匹配确定单元基于扭曲补偿的第一指纹来确定第一指纹是否与第二指纹匹配。 | ||
搜索关键词: | 用于 指纹 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种指纹比对系统,包括:第一细部特征获取单元,适于获取第一指纹的第一细部特征信息;第二细部特征获取单元,适于获取第二指纹的第二细部特征信息;网格构造单元,配置成基于所述第一细部特征来构造可变形网格;网格变换单元,配置成对所述可变形网格的状态进行变换,由此获得扭曲补偿的第一指纹;以及匹配确定单元,配置成基于所述扭曲补偿的第一指纹来确定所述第一指纹是否与所述第二指纹匹配。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩国外国语大学校研究产学协力坛,未经韩国外国语大学校研究产学协力坛许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810111412.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。