[发明专利]数据序列的检测方法及从数据序列中恢复信息的方法有效

专利信息
申请号: 200810114068.7 申请日: 2008-05-30
公开(公告)号: CN101594200A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 李明;杨立吾;刘飞 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H03M5/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李 丽
地址: 100176北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种数据序列的检测方法,包括:当接收到所述数据序列时,对该数据序列的各个码元进行侦测,获取相邻码元之间的状态变化;根据相邻码元之间的状态变化,检测出违反所述编码规则的码元,所述码元即为结束部分中用于表征所述数据主体结束的破坏位,本发明通过对具有破坏位的数据序列的检测,相比于现有技术,检测方法简单易行,且可提高检测所述数据长度的正确性,便于解码并恢复出数据序列的原始信息。本发明另提供一种从所述数据序列中恢复信息的方法。
搜索关键词: 数据 序列 检测 方法 恢复 信息
【主权项】:
1.一种数据序列的检测方法,所述数据序列包括前导部分、数据主体与结束部分,所述数据主体中,相邻码元间的状态变化符合编码规则;其特征在于,包括:当接收到所述数据序列时,对该数据序列的各个码元进行侦测,获取相邻码元之间的状态变化;根据相邻码元之间的状态变化,检测出违反所述编码规则的码元,所述码元即为结束部分中用于表征所述数据主体结束的破坏位。
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