[发明专利]全光纤型光波粒二象性测量装置无效

专利信息
申请号: 200810114201.9 申请日: 2008-06-02
公开(公告)号: CN101281064A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: 马海强;于丽 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100876*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种测量光波粒二象性的装置,实现对光波粒二象性的验证和观察。提出了一种结构简单、易于构建、抗干扰性强、易于观察测量结果的光波粒二象性的观测装置。该装置由单光子源、光环型器、X型光分路/合路器依次连接构成,另外再配以两个单光子探测计数器。其物理基础是:测量粒子性时,利用了光子经X型光分路/合路器时的路径随机选择特性,突出显示经典粒子运动轨道、轨迹的特征;测量波动性时,利用了Sagnac干涉仪,光子在X型光分路/合路器再次相遇时的叠加特性,突出显示经典波的干涉特征。
搜索关键词: 光纤 光波 二象性 测量 装置
【主权项】:
1.全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于:包括依次连接的单光子源1、光环型器2、X型光分路/合路器3。其中单光子源1的输出端连接光环型器2的同向输入端2a;光环型器2的同向输出端2b连接X型光分路/合路器3的尾纤端口3a;光环型器2的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的尾纤端口3b可同时悬空,也可同时分别连接单光子探测计数器A、B;X型光分路/合路器3的尾纤端口3c、3d可同时分别连接单光子探测计数器A、B,也可直接相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京邮电大学,未经北京邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810114201.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top