[发明专利]全光纤型光波粒二象性测量装置无效
申请号: | 200810114201.9 | 申请日: | 2008-06-02 |
公开(公告)号: | CN101281064A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 马海强;于丽 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100876*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种测量光波粒二象性的装置,实现对光波粒二象性的验证和观察。提出了一种结构简单、易于构建、抗干扰性强、易于观察测量结果的光波粒二象性的观测装置。该装置由单光子源、光环型器、X型光分路/合路器依次连接构成,另外再配以两个单光子探测计数器。其物理基础是:测量粒子性时,利用了光子经X型光分路/合路器时的路径随机选择特性,突出显示经典粒子运动轨道、轨迹的特征;测量波动性时,利用了Sagnac干涉仪,光子在X型光分路/合路器再次相遇时的叠加特性,突出显示经典波的干涉特征。 | ||
搜索关键词: | 光纤 光波 二象性 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于:包括依次连接的单光子源1、光环型器2、X型光分路/合路器3。其中单光子源1的输出端连接光环型器2的同向输入端2a;光环型器2的同向输出端2b连接X型光分路/合路器3的尾纤端口3a;光环型器2的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的尾纤端口3b可同时悬空,也可同时分别连接单光子探测计数器A、B;X型光分路/合路器3的尾纤端口3c、3d可同时分别连接单光子探测计数器A、B,也可直接相连接。
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