[发明专利]基底温度控制方法和介质层形成方法无效

专利信息
申请号: 200810115960.7 申请日: 2008-06-30
公开(公告)号: CN101619447A 公开(公告)日: 2010-01-06
发明(设计)人: 傅蓓芬;杨继业 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: C23C16/52 分类号: C23C16/52
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李 丽
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基底温度控制方法,包括:确定包含目标温度的工艺条件和对应所述工艺条件的基底背面粗糙度基值范围;测量基底背面粗糙度;在所述工艺条件下,测得的粗糙度在所述粗糙度基值范围之内时,确定所述基底具有目标温度;测得的粗糙度在所述粗糙度基值范围之外时,调整所述工艺条件,使所述基底具有目标温度。可提高基底温度控制的精确程度,以减少介质层形成过程中气泡的产生。本发明还提供了一种介质层形成方法,可减少介质层形成过程中气泡的产生。
搜索关键词: 基底 温度 控制 方法 介质 形成
【主权项】:
1.一种基底温度控制方法,其特征在于,包括:确定包含目标温度的工艺条件和对应所述工艺条件的基底背面粗糙度基值范围;测量基底背面粗糙度;在所述工艺条件下,测得的粗糙度在所述粗糙度基值范围之内时,确定所述基底具有目标温度;测得的粗糙度在所述粗糙度基值范围之外时,调整所述工艺条件,使所述基底具有目标温度。
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