[发明专利]残像等级评定方法及装置无效
| 申请号： | 200810118781.9 | 申请日： | 2008-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN101655409A | 公开（公告）日： | 2010-02-24 |
| 发明（设计）人： | 张培林 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/10 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 申 健 |
| 地址： | 100176北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种残像等级评定方法及装置，涉及显示技术领域，解决了现在人眼对显示器残像等级评定不准确的问题。本发明实施例通过获取到残像实验前后显示器显示参照图案的初始亮度和目标亮度，并计算目标亮度和初始亮度的差值，通过这个差值准确评定显示器的残像等级。本实施例主要用于对显示器的残像进行等级评定，如：液晶显示器、等离子显示器的残像等级评定等等。 | ||
| 搜索关键词： | 等级 评定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种残像等级评定方法，其特征在于，包括：获取显示器显示参照图案的初始亮度；对显示器进行残像实验；获取经过残像实验后的显示器显示参照图案的目标亮度；计算所述目标亮度和初始亮度的亮度差值；根据所述亮度差值确定所述显示器的残像等级。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司，未经北京京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810118781.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
