[发明专利]一种测量土壤孔隙率的方法无效
| 申请号： | 200810119231.9 | 申请日： | 2008-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN101344474A | 公开（公告）日： | 2009-01-14 |
| 发明（设计）人： | 孙宇瑞;张慧娟;林剑辉;蔡祥 | 申请（专利权）人： | 中国农业大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N33/24 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张国良 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种根据土壤表面粗糙度测量土壤表层孔隙率的方法。所述方法包括以下步骤：在土壤表面选择采样点，在土壤上方选择水平面，测量采样点到水平面的距离，计算土壤表面粗糙度量化指数，计算得到土壤表面孔隙率。该方法与现有技术相比，具有快速、无损、高精度的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 土壤 孔隙率 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测量土壤表面粗糙度的设备，其特征在于，该设备包括：支架，定位部件，固定在所述支架上，包括位于与地面平行的同一平面内的相互垂直的X轴导轨和Y轴导轨，所述Y轴导轨滑动连接在所述X轴导轨上；测量部件，滑动连接在所述Y轴导轨上，用于测量地表任一点到X、Y轴导轨平面的距离；控制部件，包括X轴步进电机和Y轴步进电机，其中，所述X轴步进电机与所述Y轴导轨连接，用于控制所述Y轴导轨在所述X轴导轨上滑动，所述Y轴步进电机与所述测量部件连接，用于控制所述测量部件在所述Y轴导轨上滑动。
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