[发明专利]用于质谱分析的基底,质谱分析法和质谱分析仪有效
| 申请号： | 200810125183.4 | 申请日： | 2008-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN101329301A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 吉村公博;宫崎和也;山田和弘 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;H01J49/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了用于质谱分析的基底，质谱分析法和质谱分析仪。所提供的用于质谱分析的基底使得能够以高灵敏度进行高分子量化合物的检测，并且可以避免裂解，从而对于分析低分子量范围基本上不存在障碍。所述基底是在激光解吸/电离质谱分析中使用的用于质谱分析的基底，所述用于质谱分析的基底包含金属并且在其表面上具有多孔结构，其中，从包括羧基，磺酸基和氯化铵基的组中选择的至少一个官能团被共价键合到所述基底的表面。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 谱分析 基底 | ||
【主权项】：
1、一种在激光解吸/电离质谱分析中使用的用于质谱分析的基底，所述用于质谱分析的基底包含金属并且在其表面上具有多孔结构，其中，从包括羧基，磺酸基和氯化铵基的组中选择的至少一个官能团被共价键合到所述基底的表面。
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