[发明专利]一种光中子－X射线违禁品检测方法及系统有效
| 申请号： | 200810125189.1 | 申请日： | 2008-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN101329283A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 康克军;胡海峰;杨袆罡;陈志强;苗齐田;程建平;李元景;刘以农;彭华;李铁柱;赵自然;刘耀红;吴万龙 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/08 | 分类号： | G01N23/08;G01N23/04;G01N23/222;G01V5/00;G21F1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 范晓斌;赵辛 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光中子－X射线违禁品检测方法和系统。该系统包括：X射线发生器，其产生X射线主束，X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束，第一X射线束被引导穿过该被检物体；光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；其中，该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 中子 射线 违禁品 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光中子-X射线违禁品检测方法，用于检测一被检物体，该方法包括：同时产生第一X射线束和光中子；利用所述第一X射线束对被检物体进行X射线成像检测；在进行所述X射线成像检测的同时，利用所述光中子、根据光中子与被检物体发应所发出的特征性γ射线对被检物体进行的中子检测。
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