[发明专利]提高标准单元库性能的测量装置无效
| 申请号： | 200810126243.4 | 申请日： | 2008-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN101334440A | 公开（公告）日： | 2008-12-31 |
| 发明（设计）人： | 金成轩;申又澈;赵敬淳 | 申请（专利权）人： | 东部高科股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 章社杲;尚志峰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文披露了一种测量装置，当在不同的测试元件组(TEGs)中使用环形振荡器来检验标准单元库的性能时，该测量装置用来提高标准单元库中的标准单元的性能。使用一种内置电路通过TEG来测量并检验标准单元库的性能。因此，可以有效地提高标准单元库中的标准单元的性能。特别地，不仅可以消除测量者的人为误差或设备自身的误差，而且还可以更方便地，更快速地和更精确地执行测量。此外，可以节约测量过程中所需的高性能设备或人力和时间。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 标准 单元 性能 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于提高标准单元库性能的测量装置，包括：多个环形振荡器块，响应于外部输入的使能信号而被启动，用于输出测量结果值；解码器，其用于选择性地输出来自所述环形振荡器块的一个或多个所述测量结果值；以及统计辅助器，其用于在预定的周期接收来自所述解码器的输出值并输出所接收的值的最大值，最小值和平均值。
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