[发明专利]存储装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200810129037.9 | 申请日： | 2008-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN101615433A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | 吴祥煌;李日农 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储装置及其测试方法，可以检测两个存储器阵列间的耦合错误。该存储装置包含存储器阵列单元及测试模块。该存储器阵列单元包括值存储器阵列及屏蔽存储器阵列。该测试模块耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产生测试模式信号至该存储器阵列单元，以执行存储器测试。其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段，及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整数。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储装置，包含：存储器阵列单元，包含：值存储器阵列，用于储存值比特；以及屏蔽存储器阵列，耦接至该值存储器阵列，用于储存屏蔽比特以屏蔽该值存储器阵列；以及测试模块，耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产生测试模式信号至该存储器阵列单元，以执行存储器测试；其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段，及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整数。
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