[发明专利]测试装置无效
申请号: | 200810131232.5 | 申请日: | 2008-08-01 |
公开(公告)号: | CN101639515A | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 蔡竹青 | 申请(专利权)人: | 环隆电气股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿 宁;张华辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种测试装置,适于测试至少一待测板。该测试装置包括一远端连接单元、至少一可编程测试板以及一主控电脑。可编程测试板连接至远端连接单元,主控电脑是连接至远端连接单元。待测板适于连接至可编程测试板,且可编程测试板具有一可编程系统芯片。主控电脑内存有预设的多个测试流程,且主控电脑适于根据待测板的种类来选取对应待测板的测试流程,并控制可编程测试板对待测板进行测试。该测试装置能降低测试成本且能减少测试时间。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测试装置,适于测试至少一待测板,其特征在于其包括:一远端连接单元;至少一可编程测试板,连接至该远端连接单元,且该待测板适于连接至该可编程测试板,且该可编程测试板具有一可编程系统芯片;以及一主控电脑,连接至该远端连接单元,该主控电脑内存有预设的多个测试流程,且该主控电脑适于根据该待测板的种类来选取对应该待测板的该测试流程,并控制该可编程测试板对该待测板进行测试。
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