[发明专利]具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法有效

专利信息
申请号: 200810132560.7 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101308306A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 黄韦凯;李斳伦;林家强 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/13;G09G3/36;G01R31/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种具测试架构的液晶显示装置,主要包含多条数据线、多条栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。多条奇数共享电极线是用以馈送第一共享电压,多条偶数共享电极线是用以馈送第二共享电压。奇数列像素单元及偶数列像素单元分别耦合于对应奇数共享电极线及对应偶数共享电极线。另揭露一种检测液晶显示装置的缺陷的测试方法,包含:于第一时段致能所有栅极线及馈入第一测试电压至对应数据线;于第二时段除能偶数栅极线及馈入第二测试电压至对应数据线;及于第三时段将第二共享电压从第一共享测试电压切换为第二共享测试电压。
搜索关键词: 测试 架构 液晶 显示装置 相关 方法
【主权项】:
1.一种具测试架构的液晶显示装置,其特征在于,包含:多条数据线,每一条数据线接收一对应数据信号;多条栅极线,每一条栅极线接收一对应栅极信号;多条共享电极线,该些共享电极线的多条奇数共享电极线用以接收一第一共享电压,该些共享电极线的多条偶数共享电极线用以接收一第二共享电压;以及多列像素单元,每一列像素单元包含多个像素单元,其中该些列像素单元的一奇数列像素单元的多个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应奇数共享电极线,该些列像素单元的一偶数列像素单元的多个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应偶数共享电极线。
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