[发明专利]电子装置无效
| 申请号： | 200810135745.3 | 申请日： | 2008-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN101345239A | 公开（公告）日： | 2009-01-14 |
| 发明（设计）人： | 渡边浩志;松泽一也 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | H01L25/18 | 分类号： | H01L25/18;H01L27/02;H01L23/31;H01L23/488 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 岳耀锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子装置，具备：基板(1)；第1芯片(5)，安装在上述基板上，形成有第1和第2端子(11，10)、输入焊区(17)、以及连接到上述第1和第2端子(11，10)上并以既定的寿命切断上述第1和第2端子之间的访问的半导体时限开关，上述输入焊区设定上述既定的寿命；第2芯片(7)，安装在上述基板上，内置有具有连接到上述第1端子(11)上的第3端子(12)和作为与外部的输入输出端子的第4端子(13)的运算装置；第1存储装置(3)，安装在上述基板上，具有连接到上述第2端子(10)上的第5端子(9)，记录有为使上述运算装置工作所必需的信息；以及封装体(19)，至少覆盖形成了上述第1芯片(5)的上述输入焊区(17)的表面。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子装置，其特征在于，具备：基板；第1芯片，安装在上述基板上，形成有第1和第2端子、输入焊区以及连接到上述第1和第2端子上并以既定的寿命切断上述第1和第2端子之间的访问的半导体时限开关，上述输入焊区设定上述既定的寿命；第2芯片，安装在上述基板上，内置有具有连接到上述第1端子上的第3端子和作为与外部的输入输出端子的第4端子的运算装置；第1存储装置，安装在上述基板上，具有连接到上述第2端子上的第5端子，记录有为使上述运算装置工作所必需的信息；以及封装体，至少覆盖形成了上述第1芯片的上述输入焊区的表面。
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