[发明专利]SDRAM损坏存储单元地址管理方法无效

专利信息
申请号: 200810148061.7 申请日: 2008-12-26
公开(公告)号: CN101567221A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 杨修;邹铮贤 申请(专利权)人: 和芯微电子(四川)有限公司
主分类号: G11C29/04 分类号: G11C29/04;G11C11/4078
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 代理人: 徐 丰
地址: 610041四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了SDRAM损坏存储单元地址管理方法,首先将SDRAM片外配置有后备存储器,所述后备存储器每个地址对应的存储单元的大小大于或等于SDRAM存储单元的大小;当初始化时,增加损坏存储单元扫描操作,对SDRAM中所有地址的存储单元进行N次交错的“0”和“1”数据读写操作,通过多次比较读写数据是否完全一致,判断SDRAM的存储单元是否损坏,其中,N≥2;本发明特别适用于SDRAM出现少量存储单元损坏的情况,可以大幅提高SDRAM的使用寿命,减少了产品的使用成本。
搜索关键词: sdram 损坏 存储 单元 地址 管理 方法
【主权项】:
1、SDRAM损坏存储单元地址管理方法,其特征在于:将SDRAM片外配置有后备存储器,所述后备存储器每个地址对应的存储单元的大小大于或等于SDRAM存储单元的大小;当初始化时,增加损坏存储单元扫描操作,对SDRAM中所有地址的存储单元进行N次交错的“0”和“1”数据读写操作,通过多次比较读写数据是否完全一致,判断SDRAM的存储单元是否损坏,其中,N≥2。
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