[发明专利]测试元件的不合格标记的标记方法有效
| 申请号： | 200810149720.9 | 申请日： | 2008-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN101430328A | 公开（公告）日： | 2009-05-13 |
| 发明（设计）人： | J·K·罗帕;W·芬克;M·弗兰克;G·施米特;S·迪克;P·斯图本博德 | 申请（专利权）人： | 霍夫曼-拉罗奇有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/50 | 分类号： | G01N33/50;G01N33/66;G01N31/00;B41J2/435 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张群峰;何自刚 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 测试元件的不合格标记的标记方法。该测试元件(112，114，116；246，254)适于检测样品(220)中的至少一种待分析物。对至少一些测试元件(112，114，116；246，254)提供包含有关测试元件(112，114，116；246，254)之缺陷信息的缺陷标记。该测试元件(112，114，116；246，254)具有至少一种辐射敏感材料(202)。使该测试元件(112，114，116；246，254)暴露于至少一种辐射(156)，该辐射(156)适于在辐射敏感材料(202)中引发形式为至少一种光学可检测的变化的标记。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 不合格 标记 方法 | ||
【主权项】：
1. 用于标记测试元件(112，114，116；246，254)的标记方法，该测试元件(112，114，116；246，254)适于检测样品(220)中的至少一种待分析物，对至少一些测试元件(112，114，116；246，254)提供包含有关测试元件(112，114，116；246，254)之缺陷信息的缺陷标记，其特征在于，该测试元件(112，114，116；246，254)具有至少一种辐射敏感材料(202)，使该测试元件(112，114，116；246，254)暴露于至少一种辐射(156)，该辐射(156)适于在辐射敏感材料(202)中引发形式为至少一种光学可检测的变化的标记。
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