[发明专利]灰体辐射率的测定方法有效

专利信息
申请号: 200810153638.3 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101419095A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 田乃良 申请(专利权)人: 田乃良
主分类号: G01J5/52 分类号: G01J5/52
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 江镇华
地址: 300191天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种灰体辐射率的测定方法,是通过双波长探测物体的热辐射强度,来测量辐射率,即提出灰体的热辐射表达公式,其中,φ(λ,T)是灰体的热辐射强度,λ为辐射波长,T为灰体的温度,这里a1,a2是表征辐射率的系数;在相同的温度下,用双波长分别测量灰体的辐射强度,解出系数a1,a2的值,将其代入灰体的热辐射表达公式中,就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系;再根据灰体的物理模型φ(λ,T)=σ(λ,T)φ(λ,T)得出实际物体在此温度下的辐射率,其中,φ(λ,T)为灰体的辐射强度;σ(λ,T)为灰体的辐射率,0<σ(λ,T)<1;φ(λ,T)为黑体的辐射强度。本发明通过精确测量物体(即灰体)的辐射率,用双波长对热辐射的普朗克公式的两个常数项进行标定,来达到精确测量红外辐射温度的目的。具有更广泛的应用领域,特别是高精度的测温领域。
搜索关键词: 辐射 测定 方法
【主权项】:
1. 一种灰体辐射率的测定方法,其特征在于,是通过双波长探测物体的热辐射强度,来测量辐射率,包括有:提出灰体的热辐射表达公式其中,是灰体的热辐射强度,λ为辐射波长,T为灰体的温度,这里a1,a2是表征辐射率的系数;在相同的温度下,用双波长分别测量灰体的辐射强度,解出系数a1,a2的值,将其代入灰体的热辐射表达公式中,就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系;再根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率,其中,为灰体的辐射强度;σ(λ,T)为灰体的辐射率,0<σ(λ,T)<1;φ(λ,T)为黑体的辐射强度。
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