[发明专利]一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法无效

专利信息
申请号: 200810155541.6 申请日: 2008-10-08
公开(公告)号: CN101394186A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 刘磊;周武旸 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 代理人: 汪祥虬
地址: 230026*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码及其构造方法,特征是利用一组移位项系数构造的校验矩阵能够实现码长的连续变化;所构造出的一类特纳图周长值至少为十的具有很高纠错能力的规则准循环低密度奇偶校验码,能够提供丰富码率和码长的码字,并且具有利于解码器硬件实现的简单结构,与一般的准循环低密度奇偶校验码校验矩阵构造方法相比,本发明的构造方法大大增加了多种码率下可用的高性能准循环低密度奇偶校验码数量,更好地服务于自适应链路系统。
搜索关键词: 一种 连续 变化 循环 密度 奇偶 校验码 构造 方法
【主权项】:
1、一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法,包括:构造mL×nL的准循环低密度奇偶校验码校验矩阵H:式1式1中所示的校验矩阵H行重为n,n=1,2,…9,列重为m,m=2,3,n>m;L×L的子矩阵由单位阵向右循环移位移位项系数值aij得到,其中aij定义在环基数为L的整数环上,i∈0,1,…,m-1;j∈0,1,…,n-1;当所构造的校验矩阵H满秩时,利用式1构造的码字码率为码长为N=nL;其特征在于:设子矩阵移位项系数aij:aij=2ilj 式2式2中lj为非负整数,其中0≤jLmin时,利用固定的移位项系数所构造的校验矩阵H特纳图周长值为10;在编码器硬件实现中,只需要存储移位项系数值aij,并利用移位寄存器实现循环移位的结构。
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