[发明专利]检测X-射线的方法及X-射线检测装置无效
| 申请号： | 200810160827.3 | 申请日： | 2008-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN101393266A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 郑宽旭;秋大镐 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 戎志敏 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 精确地检测X-射线的装置和方法使用了光电二极管基板，其中向光电二极管施加第一反向电压，以根据入射到光电二极管上的X-射线产生光电探测电压。在响应当前帧中施加于光电二极管的X-射线输出图像信号之后，向光电二极管施加正向偏置，从而在下一帧中可以更加精确的检测X-射线。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 射线 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种检测X-射线的方法，包括：向光电二极管施加第一反向偏置；使用由X-射线产生的光电探测电压，输出与施加于光电二极管的X-射线的数量相对应的图像信号；以及向光电二极管施加正向偏置。
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