[发明专利]光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台无效
| 申请号： | 200810171699.2 | 申请日： | 2008-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101726495A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 蔡译庆;冯胜凯;施昱安;翁松佑;潘世耀 | 申请（专利权）人： | 中茂电子(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京明和龙知识产权代理有限公司 11281 | 代理人： | 郁玉成 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台，光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于镜面并供连接至一个预定电路的接面；藉由自动化机台的基座、输送装置、携带装置与光学影像撷取装置的协调运作，进行检测步骤a)以单一方向取得多个光学影像撷取元件、并同步暴露所有多个批次受测的光学影像撷取元件的多个接面；b)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个接面；c)同步暴露多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面；及d)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 影像 撷取 元件 外观 批次 检测 方法 机台 | ||
【主权项】：
一种光学影像撷取元件外观批次检测方法，其中所述光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于所述镜面并供连接至一个预定电路的接面，所述批次检测方法包括下列步骤：a)以单一方向取得光学影像撷取元件、并同步暴露所有该批次受测的光学影像撷取元件的接面；b)检测该批次受测光学影像撷取元件的接面；c)同步暴露该批次受测光学影像撷取元件的镜面；及d)检测该批次受测光学影像撷取元件的镜面。
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