[发明专利]单次可程序化记忆单元及其操作方法无效
申请号: | 200810171814.6 | 申请日: | 2008-11-12 |
公开(公告)号: | CN101740577A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 林崇荣;金雅琴 | 申请(专利权)人: | 亚特伦工业有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L23/522;G11C17/00 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 伯利兹伯利兹*** | 国省代码: | 伯利兹;BZ |
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摘要: | 本发明是有关于一种单次可程序化记忆单元及其操作方法。该单次可程序化记忆单元,其包含栅极介电层、栅极电极、第一源极/漏极、第二源极/漏极、第一自我对准金属硅化层、电容介电层、第二导电插塞与第一导电插塞。此栅极电极配置于此栅极介电层上。此第一源极/漏极与一第二源极/漏极分别位于此栅极电极下方之相对两侧。此第一自我对准金属硅化层配置于此第一源极/漏极上。此电容介电层,配置于此第二源极/漏极上。此第二导电插塞,配置于此第一自我对准金属硅化层上。此第一导电插塞,配置于此电容介电层上,其中此第二导电插塞的尺寸不同于此第一导电插塞的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 单次可 程序化 记忆 单元 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种单次可程序化记忆单元,其特征在于其包含:一栅极介电层,配置于一井上;一栅极电极,配置于该栅极介电层上;一第一源极/漏极与一第二源极/漏极,配置于该井中,分别位于该栅极电极下方的相对二侧;一第一自我对准金属硅化层,配置于该第一源极/漏极上;一电容介电层,配置于该第二源极/漏极上;一第一导电插塞,配置于该第一自我对准金属硅化层上;以及一第二导电插塞,配置于该电容介电层上,其中该第一导电插塞的尺寸不同于该第二导电插塞的尺寸。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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