[发明专利]单次可程序化记忆单元及其操作方法无效

专利信息
申请号: 200810171814.6 申请日: 2008-11-12
公开(公告)号: CN101740577A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 林崇荣;金雅琴 申请(专利权)人: 亚特伦工业有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L23/522;G11C17/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 伯利兹伯利兹*** 国省代码: 伯利兹;BZ
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摘要: 发明是有关于一种单次可程序化记忆单元及其操作方法。该单次可程序化记忆单元,其包含栅极介电层、栅极电极、第一源极/漏极、第二源极/漏极、第一自我对准金属硅化层、电容介电层、第二导电插塞与第一导电插塞。此栅极电极配置于此栅极介电层上。此第一源极/漏极与一第二源极/漏极分别位于此栅极电极下方之相对两侧。此第一自我对准金属硅化层配置于此第一源极/漏极上。此电容介电层,配置于此第二源极/漏极上。此第二导电插塞,配置于此第一自我对准金属硅化层上。此第一导电插塞,配置于此电容介电层上,其中此第二导电插塞的尺寸不同于此第一导电插塞的尺寸。
搜索关键词: 单次可 程序化 记忆 单元 及其 操作方法
【主权项】:
一种单次可程序化记忆单元,其特征在于其包含:一栅极介电层,配置于一井上;一栅极电极,配置于该栅极介电层上;一第一源极/漏极与一第二源极/漏极,配置于该井中,分别位于该栅极电极下方的相对二侧;一第一自我对准金属硅化层,配置于该第一源极/漏极上;一电容介电层,配置于该第二源极/漏极上;一第一导电插塞,配置于该第一自我对准金属硅化层上;以及一第二导电插塞,配置于该电容介电层上,其中该第一导电插塞的尺寸不同于该第二导电插塞的尺寸。
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