[发明专利]光学拾取装置以及记录或再现信息的装置有效
| 申请号： | 200810173390.7 | 申请日： | 2000-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101441879A | 公开（公告）日： | 2009-05-27 |
| 发明（设计）人： | 大田耕平;木村彻 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/135 | 分类号： | G11B7/135;G11B7/125 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 屠长存 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学拾取装置以及记录或再现信息的装置。该光学拾取装置包括：发射波长不大于500nm的光通量的光源；改变光通量的发散角的耦合透镜；把光通量会聚到信息记录表面上的物镜；探测从信息记录表面反射的光的光探测器；将从信息记录表面反射的光引向光探测器的分束器；物镜是由塑料制成的单透镜，耦合透镜位于分束器和物镜之间的光路中，耦合透镜在光轴方向上移动，使得由于温度改变而导致的球差涨落被校正，物镜包括至少一个非球面，满足下列状态方程：0.7≤NA，1.1≤d1/f≤3，f/νd≤0.060mm，NA表示物镜在光学信息记录介质一侧的数值孔径，d1表示物镜的轴向厚度，f表示物镜的焦距，νd表示物镜材料的阿贝数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 装置 以及 记录 再现 信息 | ||
【主权项】：
1. 一种在光学信息记录介质上记录信息或再现光学信息记录介质上的信息的光学拾取装置，包括：一个发射波长不大于500nm的光通量的光源；一个改变从所述光源发射的光通量的发散角的耦合透镜；一个用于把通过所述耦合透镜的光通量会聚到光学信息记录介质的信息记录表面上的物镜；一个探测从光学信息记录介质的信息记录表面反射的光的光探测器；以及一个将从信息记录表面反射的光引向所述光探测器的分束器；其中，所述物镜是由塑料制成的单透镜，所述耦合透镜位于所述分束器和所述物镜之间的光路中，所述耦合透镜在光轴方向上移动，从而使得由于温度改变而导致的球差涨落被校正，并且所述物镜包括至少一个非球面，并且满足下列状态方程：0. 7≤NA，1. 1≤d1/f≤3，f/vd≤0. 060mm，其中，NA表示所述物镜在光学信息记录介质一侧的数值孔径，d1表示所述物镜的轴向厚度，f表示所述物镜的焦距，以及vd表示所述物镜的材料的阿贝数。
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