[发明专利]高温测试系统

摘要

随机存取内存(DRAM)的测试，已经广泛使用于内存模块的生产质量控制作业当中，其中较为先进且逐步导入至内存模块生产测试的项目为高温环境测试，其主要的目的是用来筛选出早期失效不良的制品，以确保产品使用的可靠度与耐受性。本发明公开了一种新的高温测试系统，可适用于内存模块的高温环境测试中，其具有低成本、易维护及结构简单等的特性，特别适用于大量生产的操作使用条件要求。

主权项

一种高温测试系统，其包括：至少一个计算器系统，其可将一内存讯号输出至外部电路模块，并具备标准输出入控制接口以提供测试装置系统必要的控制信号；至少一个讯号桥接装置，其具有讯号缓冲组件，可提供该内存讯号缓冲后再输出以增加其扇出的能力；一电源供应器，用以提供各电路模块所需的电力；至少一个承架装置，其可嵌入数个独立作业的该内存模块，该承架装置并可与桥接装置相互连接与分离；一加热机箱，其机体具有隔热保温的功能并具有一加热装置对机箱内部的空气进行加热及对流的功能；其中的计算器系统、讯号桥接装置及电源供应器均组立于该加热机箱的外部，而该承架装置及其上的内存模块则组立于加热机箱的内部以进行高温环境下的内存模块读写测试功能。