[发明专利]微定涡卷叶片内制造电极的方法无效

专利信息
申请号: 200810177004.1 申请日: 2005-07-04
公开(公告)号: CN101456533A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 俞度立 申请(专利权)人: 俞度立
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;F04C29/00;F04C18/02
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 代理人: 梁朝玉
地址: 100054北京市丰台区菜*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及微定涡卷叶片(涡卷壁)内制造电极的方法,包括如下步骤:a.SOI硅片作为出发材料,和;b.各向异性的从反面刻蚀,并停留在二氧化硅层;c.各向异性的刻蚀二氧化硅层;d.各向异性硅刻蚀到指定深度形成深洞;e.洞里绝缘层等厚度沉积,二氧化硅为首选;f.洞内金属电镀工艺,首选金,(或多晶体硅沉积)。微定涡卷叶片也就是微定涡卷壁。
搜索关键词: 微定涡卷 叶片 制造 电极 方法
【主权项】:
1、微定涡卷叶片内制造电极的方法,其特征在于包括如下步骤:a、SOI硅片作为出发材料,和;b、各向异性的从反面刻蚀,并停留在二氧化硅层;c、各向异性的刻蚀二氧化硅层;d、各向异性硅刻蚀到指定深度形成深洞;e、洞里绝缘层等厚度沉积,二氧化硅为首选;f、洞内金属电镀工艺,首选金,或多晶体硅沉积。
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