[发明专利]一种自动光学检测设备及其检测方法无效
| 申请号： | 200810177069.6 | 申请日： | 2008-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN101738395A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 潘世耀;冯胜凯;王铭辉;简宏达 | 申请（专利权）人： | 中茂电子(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;张燕华 |
| 地址： | 518054 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种自动光学检测设备(Automated Optical Inspection；AOI)，用以检测一待测物的多个表面，该待测物可为一电子组件。该自动光学检测设备包含一光源装置，一影像感测装置，以及一光学结构件，其中，该光学结构件包含一基座与多个反射结构。当检测该多个表面的待测物时，将该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 光学 检测 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种自动光学检测设备，用以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该自动光学检测设备包含：一光源装置，用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面；一影像感测装置，接收该待测物的反射光线以产生一检测影像；以及一光学结构件，装设于该光线的光径上，包含：一基座，多个反射结构，设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。
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