[发明专利]电阻器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810178623.2 申请日: 2008-11-21
公开(公告)号: CN101692359A 公开(公告)日: 2010-04-07
发明(设计)人: 内藤隆史;中村彰彦 申请(专利权)人: 兴亚株式会社
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C17/065
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李帆
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种金属玻璃釉膜电阻器,其降低包含于绝缘性基体中的玻璃成分引起的对厚膜电阻体的TCR特性的影响,使用包含玻璃成分的经济的绝缘性的基体得到良好的TCR特性。该电阻器具备:包含玻璃的绝缘性的基体(11)、形成于该基体的表面且不包含玻璃的第一保护膜(12)、以及形成于第一保护膜上的厚膜电阻体(13)。在包含玻璃的绝缘性的基体(11)的表面形成第一保护膜(12),实现与以RuO2为主成分的厚膜绝缘体(13)的绝缘,由此,可以抑制包含于基体(11)中的玻璃成分对以RuO2为主成分的厚膜电阻体(13)的影响,且可以抑制厚膜电阻体自身具有的TCR特性的变动。
搜索关键词: 电阻器 及其 制造 方法
【主权项】:
电阻器,其特征在于,具备:包含玻璃的绝缘性的基体、形成于该基体的表面且不包含玻璃的第一保护膜、以及形成于该第一保护膜上的厚膜电阻体。
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