[发明专利]一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置无效
| 申请号： | 200810179627.2 | 申请日： | 2008-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN101739019A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 周熙文;方兴余 | 申请（专利权）人： | 三科电器有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 325600 浙江省乐清市经*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。本发明中，通过修改上位机软件中的参考量化值(ADset)，补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差，节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 上位 系统 被控 进行 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法，其特征在于，包括以下步骤：检测被控量的真实值；将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较，若相等，则执行步骤A；否则，执行步骤B；步骤A：操作上位机，向下位机发送保存参考量化值(ADset)的指令；步骤B：操作上位机，向下位机发送递增或递减参考量化值(ADset)的指令。
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