[发明专利]溅射装置以及溅射方法有效
申请号: | 200810180530.3 | 申请日: | 2008-11-28 |
公开(公告)号: | CN101445915A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 山本昌裕;小岩崎刚;村岸勇夫;山西齐 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 葛 飞 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供溅射装置以及溅射方法,具体而言提供具备能够在靶表面大范围地发生等离子的磁控电极的磁控溅射装置以及使用该装置的溅射方法。由此,能够实现可在靶表面大范围地发生等离子的磁场形状,提高靶材料的利用效率,并且抑制灰尘和异常放电。磁控电极的磁路(10)从靶(2)的中央部分向外周部分配置有中心垂直磁体(101)、内侧平行磁体(103)、外侧平行磁体(104)以及外周垂直磁体(102),使内侧平行磁体(103)接近靶(2)。 | ||
搜索关键词: | 溅射 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种溅射装置,包括:真空腔;靶,其被配置在所述真空腔内;磁路,其被设置在所述靶的背面一侧,包括垂直磁体组件和平行磁体组件;以及基板保持件,其被配置在所述靶的表面一侧,用于保持基板,其中,所述垂直磁体组件由中心垂直磁体和外周垂直磁体构成,所述垂直磁体组件的任意磁场方向都大致垂直于所述靶表面,并且所述中心垂直磁体与所述外周垂直磁体的磁场方向彼此相反,所述中心垂直磁体设置在所述靶的背面的中央部分,所述外周垂直磁体被设置在所述靶的背面的外周部分,并被设置成包围所述中心垂直磁体的环状,所述平行磁体组件由内侧平行磁体和外侧平行磁体构成,所述平行磁体组件的任意磁场方向都大致平行于所述靶表面,并且所述内侧平行磁体和所述外侧平行磁体的磁场方向相同,所述平行磁体组件都被设置在所述中心垂直磁体和所述外周垂直磁体之间,并被设置成包围所述中心垂直磁体的环状,而且所述内侧平行磁体比所述外侧平行磁体更靠近所述靶的背面的中心一侧配置,在设所述内侧平行磁体与所述靶表面之间的间隔为D1、所述外侧平行磁体与所述靶表面之间的间隔为D2、所述外周垂直磁体与所述靶表面之间的间隔为D3时,具有D1
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810180530.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:α型晶体结构为主体的氧化铝被膜相关技术
- 下一篇:核酸的定量方法
- 同类专利
- 专利分类