[发明专利]一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 200810180765.2 | 申请日： | 2008-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN101458971A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 王惠刚 | 申请（专利权）人： | 炬力集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 宋志强;麻海明 |
| 地址： | 519085广东省珠海市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种嵌入式存储器的测试系统及测试方法，该系统包括测试装置和与其相连的自动测试设备，该装置包括存储器测试控制器和存储器测试总线接口单元相连，存储器测试控制器根据自动测试设备输入的测试控制信号，进行状态转换，在相应状态下根据自动测试设备通过存储器测试总线接口单元输入的存储地址，将自动测试设备通过存储器测试总线接口单元输入的测试数据写入嵌入式存储器，或者在相应状态下根据自动测试设备通过存储器测试总线接口单元输入的存储地址，控制存储器测试总线接口单元读取嵌入式存储器存储的测试数据并由存储器测试总线接口单元发送自动测试设备进行验证。本发明在减少SoC管脚数目及节省测试成本的情况下完成嵌入式存储器的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 存储器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种嵌入式存储器的测试系统，所述系统包括嵌入式存储器的测试装置和与其相连的自动测试设备，其特征在于，所述嵌入式存储器的测试装置包括存储器测试控制器和与其相连的存储器测试总线接口单元，其中，所述存储器测试控制器，用于根据所述自动测试设备输入的测试控制信号，进行状态转换，在相应状态下根据所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的存储地址，将所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的测试数据写入所述嵌入式存储器中，或者在其他相应状态下根据所述自动测试设备通过所述存储器测试总线接口单元输入的存储地址，控制所述存储器测试总线接口单元读取所述嵌入式存储器存储的测试数据并由所述存储器测试总线接口单元发送给所述自动测试设备进行验证；所述存储器测试总线接口单元，用于将所述自动测试设备发送的存储地址和测试数据发送给所述存储器测试控制器；在所述存储器测试控制器的控制下读取嵌入式存储器存储的测试数据，发送给所述自动测试设备进行验证。
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