[发明专利]雷射测距装置及其控制方法无效
| 申请号： | 200810181486.8 | 申请日： | 2008-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN101738609A | 公开（公告）日： | 2010-06-16 |
| 发明（设计）人： | 蔡宗岳 | 申请（专利权）人： | 亚洲光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/481 | 分类号： | G01S7/481;G01S17/08 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元;王小青 |
| 地址： | 中国台湾台中县潭子*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种雷射测距装置及其控制方法，可以测量远距离及近距离的目标物，所述雷射测距装置包括发射组件，用以对该目标物发射测量光、接收组件，用以接收该目标物反射该测量光的反射光、反射组件，用以反射该反射光至该接收组件、聚焦透镜，用以将该反射光透过该反射组件聚焦在该接收组件、以及驱动模块，藉由转动以调整该反射组件的角度；以及控制单元，依据该接收组件接收该反射光的强度大小与预定值比较的结果以控制该驱动模块是否转动。 | ||
| 搜索关键词： | 雷射 测距 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种雷射测距装置，用于测量远距离及近距离的目标物，其特征在于，包括：发射组件，用以对该目标物发射测量光；接收组件，用以接收该目标物反射该测量光的反射光；反射组件，用以反射该反射光至该接收组件；聚焦透镜，用以将该反射光通过该反射组件聚焦在该接收组件；驱动模块，藉由转动以调整该反射组件的角度；以及控制单元，依据该接收组件接收该反射光的强度大小与预定值比较的结果以控制该驱动模块是否转动。
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