[发明专利]帧间差分过采样重构方法及在微扫描显微热成像中的应用

摘要

本发明涉及帧间差分过采样重构方法及在微扫描显微热成像中的应用，属于红外热成像领域。本发明采用光学平板旋转微扫描器，以微扫描零点为起点采集4幅非标准2×2微扫描图像，利用基于泰勒展开原理的帧间差分过采样重构法获得标准2×2微扫描图像并经过直接过采样重构得到高分辨力图像。该帧间差分过采样重构图像无论是视觉效果还是评价参数均比直接过采样好，包含更多的信息量，可分辨的细节更多一些，而且较原始低分辨力图像的空间分辨力明显提高，同时图像得到了放大。该方法还可以应用于其它光学微扫描光电成像系统中来进一步提高系统空间分辨力，挖掘系统潜力。

主权项

1、帧间差分过采样重构方法，其特征在于：(1)当已知4幅非标准2×2微扫描欠采样图像Y＝[g1(i，j)，g2(i，j)，g3(i，j)，g4(i，j)]，并由微位移计算出位移矩阵A-1，则有X＝A-1Y (1)X＝[x1，x2，x3，x4]＝[O(2i-1，2j-1)，O(2i，2j-1)，O(2i-1，2j)，O(2i，2j)]其中，A’为A的伴随矩阵。w1＝a23a34-a24a33w2＝a14a33-a13a34w3＝a13a24-a14a23w4＝a24a32-a22a34其中，w5＝a12a34-a14a32 (3)w6＝a14a22-a12a24w7＝a22a33-a23a32w8＝a13a32-a12a33w9＝a12a23-a13a22而detA＝a12a23a34-a12a24a33-a13a22a34+a13a24a32+a14a22a33-a14a23a32 (4)则由方程(1)可以得到等效的4幅标准2×2微扫描欠采样图像，即得到微位移位置为正立正方形的图像；(2)利用(1)的4幅标准2×2微扫描欠采样图像通过直接插值法得到过采样高分辨力图像。