[发明专利]用于检测玻璃基板的不平坦的检测装置和方法有效
| 申请号： | 200810184686.9 | 申请日： | 2008-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN101526342A | 公开（公告）日： | 2009-09-09 |
| 发明（设计）人： | 吴锦美;全用元 | 申请（专利权）人： | 乐金显示有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李 辉;孙海龙 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于检测玻璃基板的不平坦的检测装置和方法。该检测玻璃基板的不平坦的检测装置包括：发射光的光源；使所述光偏振的偏振器；标准单元，其包括相对的外表面，所述玻璃基板被接合到所述相对的外表面之一，经偏振的光通过所述标准单元和所述玻璃基板；分析器，其检测和分析通过所述标准单元和所述玻璃基板的光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 玻璃 平坦 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种检测玻璃基板的不平坦的检测装置，该检测装置包括：发射光的光源；使所述光偏振的偏振器；标准单元，其包括相对的外表面，所述玻璃基板被接合到所述相对的外表面之一，经偏振的光通过所述标准单元和所述玻璃基板；分析器，其检测和分析通过所述标准单元和所述玻璃基板的光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于乐金显示有限公司，未经乐金显示有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810184686.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：发光物质形式的真实性标记
- 下一篇：TFT-LCD阵列基板结构及其制造方法
