[发明专利]光拾取装置的评价方法、测试盘及光盘无效
| 申请号： | 200810185258.8 | 申请日： | 2008-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN101471092A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 中谷守雄;鹫见聪;日比野清司 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/22;G11B7/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种可以顺利评价光拾取装置中的S形曲线的分离性能(层间分离特性)的评价方法以及其使用的测试盘。判定S形曲线S0与S形曲线S1间存在的聚焦误差信号的平坦区间的时间长B，从该时间长B与S形曲线S0、S1的时间间隔A的比率B/A检测S形曲线S0、S1的分离度。然后，在该比率B/A为阈值α以上时，评价为光拾取装置的层间分离特性合适。 | ||
| 搜索关键词： | 拾取 装置 评价 方法 测试 光盘 | ||
【主权项】：
1. 一种光拾取装置的评价方法，使用在叠层方向上具有多个记录层的测试盘对光拾取装置的性能进行评价，其特征在于，包括：第1工序，使评价对象的光拾取装置，进行对上述测试盘的聚焦搜索；第2工序，根据在上述第1工序中对上述光拾取装置取得的聚焦误差信号，检测该聚焦误差信号上连续出现的第1以及第2个S形曲线的分离度；和，第3工序，判定用上述第2工序检测出的上述分离度是否在阈值范围内，上述第2工序，判定在上述第1个S形曲线与上述第2个S形曲线之间存在的上述聚焦误差信号的平坦区间B，根据该平坦区间B与上述第1以及第2个S形曲线的间隔A的比率，检测上述分离度。
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