[发明专利]切削工具用硬质被膜、硬质被膜覆盖的切削工具、硬质被膜的制造方法及硬质被膜形成用靶有效

专利信息
申请号: 200810190347.1 申请日: 2001-12-27
公开(公告)号: CN101509120A 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 山本兼司;佐藤俊树;森川恭臣;花栗孝次;高原一树 申请(专利权)人: 株式会社神户制钢所
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种切削工具用硬质被膜,是由(Ti1-a-b-c-d,Ala,Crb,Sic,Bd)(C1-eNe)构成的硬质被膜,其中,0.5≤a≤0.8、0.06≤b、0≤c≤0.1、0≤d≤0.1、0≤c+d≤0.1、a+b+c+d<1、0.5≤e≤1其中,a、b、c、d分别表示Al、Cr、Si、B的原子比,e表示N的原子比。另外,本发明还提供了用上述切削工具用硬质被膜覆盖的切削工具,该切削工具用硬质被膜的制造方法以及硬质被膜形成用靶。采用本发明能够提供可高速·高效率切削的,耐磨损性比TiAlN优良的切削工具用硬质被膜,用于得到这种硬质被膜的有用的制造方法,以及可以通过上述制造方法有效地得到本发明的切削工具用硬质被膜的靶。
搜索关键词: 切削 工具 硬质 覆盖 制造 方法 形成
【主权项】:
1、一种硬质被膜形成用靶,其特征在于,相对密度在95%以上,由(Ti1-x-y-z-w,Alx,Cry,Siz,Bw)构成,满足0.5≤x≤0.8、0.06≤y、0≤z≤0.1、0≤w≤0.1、0≤z+w≤0.1、x+y+z+w<1,其中,x、y、z、w分别表示Al、Cr、Si、B的原子比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社神户制钢所,未经株式会社神户制钢所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810190347.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top